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X熒光光譜分析儀操作誤差源
發(fā)布時(shí)間：2023-05-05 09:34:44 點(diǎn)擊：4666
X熒光光譜分析儀作為分析領(lǐng)域重要的檢測(cè)手段，在操作過(guò)程中，或許會(huì)有一定的誤差產(chǎn)生，這會(huì)影響到我們的檢測(cè)準(zhǔn)確性。
在X熒光光譜儀分析制樣過(guò)程中，粉磨時(shí)未設(shè)定好粉磨時(shí)間和壓力，達(dá)不到要求的粉磨粒度或相應(yīng)的料度分布。實(shí)驗(yàn)表明當(dāng)粉磨時(shí)間短于試驗(yàn)設(shè)定時(shí)間，測(cè)定結(jié)果就會(huì)產(chǎn)生波動(dòng)。同時(shí)，粉磨時(shí)未按規(guī)定加適量助磨劑或所加助磨劑中含有所要分析的元素，都會(huì)給測(cè)定結(jié)果帶來(lái)較大影響。磨頭和磨盤里留有前期樣品或被其它物質(zhì)污染，結(jié)果也會(huì)產(chǎn)生誤差。
X熒光光譜儀分析制樣過(guò)程中壓片時(shí)，未設(shè)定好時(shí)間和壓力，壓力效果不好或壓片時(shí)樣品布入不均勻而產(chǎn)生了樣品的堆積分布不均，或壓片板（壓片頭）不潔凈（或上面粘有前期樣品）等，都會(huì)影響分析結(jié)果。
當(dāng)樣品制好后，制樣未保護(hù)好，制樣裝入試樣盒的位置不當(dāng)，結(jié)果給分析帶來(lái)誤差。制樣未保護(hù)好有兩層含義：
①未保護(hù)好制樣光潔度。如用手指摸分析面、或用手指甲劃、用口吹、用濕毛巾擦分析面等；
②制樣在空氣中放置太久，使分析面與空氣中物質(zhì)發(fā)生了物理化學(xué)變化。制樣裝盒位置不當(dāng)，把測(cè)樣片裝倒了或測(cè)樣片表面與試樣盒表面成一傾斜角等，都會(huì)影響到射線管與分析面的距離，從而產(chǎn)生誤差。
在X熒光光譜儀分析中，由于分析面上的樣品灰未除掉，時(shí)間長(zhǎng)了會(huì)影響到儀器真空度；或由于操作者粗心，分析程序選錯(cuò)，如測(cè)生料時(shí)用上測(cè)熟料的分析曲線或用了測(cè)石灰石的曲線，顯然結(jié)果不正確。
所以，在使用操作X熒光光譜分析儀中，需要注意到以上的問(wèn)題，保證其檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
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