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光電直讀光譜儀系統(tǒng)誤差的相關(guān)知識(shí)
發(fā)布時(shí)間：2020-09-14 14:57:58 點(diǎn)擊：6071
應(yīng)用光電直讀光譜分析方法測(cè)定試樣中元素含量時(shí)，所得結(jié)果與真實(shí)含量通常是不一致，總是存在著一定的誤差和偏差。這里所講的誤差是指每次測(cè)量的數(shù)值與真值之間的差值。而偏差是指每次測(cè)得的數(shù)值與多次測(cè)量平均值之差。
根據(jù)誤差的性質(zhì)及其產(chǎn)生原因，誤差可分為：系統(tǒng)誤差（恒定誤差）、偶然誤差（隨機(jī)誤差）和過(guò)失誤差三種。
系統(tǒng)誤差：是指在一定試驗(yàn)條件下由某個(gè)或某些因素按照某一確定的規(guī)律起作用而形成誤差，它決定了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度，系統(tǒng)誤差的大小和符號(hào)在同一試驗(yàn)中是恒定的，改變?cè)囼?yàn)條件時(shí)按照確定的規(guī)律變化。重復(fù)測(cè)定不能發(fā)現(xiàn)和減少系統(tǒng)誤差，只有改變?cè)囼?yàn)條件才能發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)誤差。
測(cè)定結(jié)果與真實(shí)值偏離的程度越小，測(cè)定結(jié)果越正確，系統(tǒng)誤差就越小，一但發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)誤差， 定要找出原因，設(shè)法避免和校正。
直讀光譜儀
系統(tǒng)誤差的來(lái)源
1.分析試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品的性質(zhì)不同
在做鋼鐵和合金分析時(shí)，分析試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品的性質(zhì)不同是經(jīng)常存在；澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)是不相同的；在光電直讀光譜分析中的某些元素測(cè)定的結(jié)果也不相同，從而引入了系統(tǒng)誤差。
2.試樣中除基體元素和分析元素以外的其他元素。若標(biāo)樣和試樣中的第三元素的含量和化學(xué)組成不完全相同，亦有可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。
3.光譜標(biāo)樣在化學(xué)分析定值時(shí)帶來(lái)的系統(tǒng)誤差。
4.未知元素譜線的重疊干擾。例如C193.0nm受鋁元素譜線的重疊干擾。在取樣時(shí)為了脫氧效果好，往往插入少量鋁。鋁的存在引入系統(tǒng)誤差。
5.分析過(guò)程中，工作條件的變化沒(méi)有覺(jué)察出來(lái)，分析人員的習(xí)慣性偏向，讀數(shù)經(jīng)常性偏高或偏低，也會(huì)產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。
以上例舉了一些造成系統(tǒng)誤差的原因，在實(shí)際工作中原因是多方面的。要消除系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，就需要由化學(xué)分析多次校對(duì)結(jié)果。也可以用同一方法來(lái)進(jìn)行隨機(jī)抽樣檢查，找出系統(tǒng)誤差的原因和采取措施。
