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手持式x射線光譜儀器在檢測貴金屬中已經(jīng)成為一種常用的手段，但首飾雖然有貴金屬卻并不是普通的x射線光譜儀器能夠檢測的。

一般情況下，熒光光譜儀要求被分析的樣品應具有平坦而均勻的被照射面積，才能獲得可靠而精確的結(jié)果。這些光譜儀的照射面積比較大（一般直徑20毫米以上），然而，很多貴金屬產(chǎn)品，例如金銀項鏈，鉑金鉆戒等都比較精致，形狀結(jié)構(gòu)復雜，有的還鑲嵌珠寶或其他合金，因此，使用這類X射線熒光光譜儀難以對首飾等貴金屬產(chǎn)品進行可靠的分析。

雖然使用小孔光闌或準直器可以獲得微束實現(xiàn)微區(qū)檢測。但是，小孔光闌或準直器在縮小光束光斑大小的同時也降低了光束的能量，導致為了得到較高的光束能量，所使用的X射線管需要具有大功率，增加了驅(qū)動難度和散熱問題。同時，由于降低了光束能量，對于包金層、鍍金層過厚的貴金屬制品無法檢測。

手持式x射線光譜儀器

為了解決上述問題，1991年，Kumakhov等人將X光透鏡引入X射線熒光光譜儀中實現(xiàn)微區(qū)檢測（WO9208325）。X射線熒光光譜儀中使用Kumakhov透鏡調(diào)整光束，可以在不損失光束能量的同時獲得小的照射光斑，照射到樣品上的光束具有高強度。

       X光透鏡能夠在不減小照射能量的情況下獲得小的照射光斑，逐漸成為貴金屬檢測用XRF中產(chǎn)生微束的主要手段。但是，由于 X 光透鏡是通過利用透鏡中的X 射線的反射、散射、

        吸收或諸如此類使X射線聚焦的裝置，在高能量X射線的情況下（高能量X射線是檢測貴金屬所必須的），反射、散射或吸收的效率低，且因偏離聚焦光程而導致的照射樣本上除焦點以外的一部分的概率變大。換言之，在使用X光透鏡的方法中，高能量X射線的聚焦效率低，且微弱照射焦點外圍以及因此離焦的光暈分量增加（在樣本表面處擴展的分布）。結(jié)果，在受激的高能量X射線是必需的情況下，不可能忽視由于同時激發(fā)波及焦點外圍的區(qū)域而造成的影響并且損失了關(guān)于X射線分析中那一部分正被測量的準確度，使得測量精度成為問題。